发明名称 | 真空加工设备及其温度控制方法、半导体器件加工方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种真空加工设备及其温度控制方法,真空加工设备包括:腔室;内衬,位于所述腔室内部;加热器,设置在所述腔室内部,与所述内衬接触连接;其中,所述内衬和腔室之间具有间隙。优选的,加热器位于内衬的下面,加热器的上表面与内衬的下表面良好接触。本发明提供的真空加工设备,在腔室内部设置加热器,并且将该加热器与内衬接触连接,而内衬和腔室之间留有间隙,通过加热器单独控制内衬的温度,从而可以分别对腔室和内衬进行温度设定和控制,比如将内衬温度设定高于刻蚀反应大多数副产物的蒸发点,进而能够有效减少副产物在内衬壁上的附着,脱落的副产物被真空泵抽走,从而能够改善腔室内的污染状况,减少维护频率,从而提高设备产能。 | ||
申请公布号 | CN102376604A | 申请公布日期 | 2012.03.14 |
申请号 | CN201010258020.0 | 申请日期 | 2010.08.19 |
申请人 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 发明人 | 管长乐 |
分类号 | H01L21/67(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I | 主分类号 | H01L21/67(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 逯长明;王宝筠 |
主权项 | 一种真空加工设备,其特征在于,包括:腔室;内衬,位于所述腔室内部;加热器,设置在所述腔室内部,与所述内衬接触连接;其中,所述内衬和腔室之间具有间隙。 | ||
地址 | 100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号 |