发明名称 真空加工设备及其温度控制方法、半导体器件加工方法
摘要 本发明提供一种真空加工设备及其温度控制方法,真空加工设备包括:腔室;内衬,位于所述腔室内部;加热器,设置在所述腔室内部,与所述内衬接触连接;其中,所述内衬和腔室之间具有间隙。优选的,加热器位于内衬的下面,加热器的上表面与内衬的下表面良好接触。本发明提供的真空加工设备,在腔室内部设置加热器,并且将该加热器与内衬接触连接,而内衬和腔室之间留有间隙,通过加热器单独控制内衬的温度,从而可以分别对腔室和内衬进行温度设定和控制,比如将内衬温度设定高于刻蚀反应大多数副产物的蒸发点,进而能够有效减少副产物在内衬壁上的附着,脱落的副产物被真空泵抽走,从而能够改善腔室内的污染状况,减少维护频率,从而提高设备产能。
申请公布号 CN102376604A 申请公布日期 2012.03.14
申请号 CN201010258020.0 申请日期 2010.08.19
申请人 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 发明人 管长乐
分类号 H01L21/67(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I 主分类号 H01L21/67(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 逯长明;王宝筠
主权项 一种真空加工设备,其特征在于,包括:腔室;内衬,位于所述腔室内部;加热器,设置在所述腔室内部,与所述内衬接触连接;其中,所述内衬和腔室之间具有间隙。
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