发明名称 一种工作台位置测量系统
摘要 本发明提供了一种工作台位置测量系统包括:镜头、主基板、承片台、大理石、至少一光栅尺组、以及与该光栅尺组相对应的至少一读头组,该镜头固定在主基板上,读头组合成一读头集,且该读头集安装在主基板上,光栅尺组固定在承片台的四周,承片台安装在大理石上并在大理石表面运动,读头组通过读头组与光栅尺组的相对运动读取运动信息,通过镜头采集该读头集的读数,得到该承片台在大理石表面的运动信息。该工作台位置测量系统,可稳定有效而且高精度的测量工作台的运动,工作台位置测量系统集成度较高,相对独立和完整,受其他分系统维修维护的影响较小。
申请公布号 CN102375343A 申请公布日期 2012.03.14
申请号 CN201010256215.1 申请日期 2010.08.18
申请人 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司 发明人 齐芊枫;郑椰琴;吴立伟
分类号 G03F7/20(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种工作台位置测量系统,其特征在于,所述工作台位置测量系统包括:一镜头、一主基板、一承片台、一大理石、至少一光栅尺组、以及与该光栅尺组相对应的至少一读头组,所述镜头固定在所述主基板上,并且镜头靠近所述光栅尺组的一端内陷于所述主基板,镜头远离所述光栅尺组的一端外露于所述主基板,所述读头组合成一读头集,所述读头集安装在主基板上,所述光栅尺组固定在所述承片台的四周,所述承片台安装在所述大理石上并在所述大理石表面运动。
地址 201203 上海市张东路1525号