发明名称 光脉冲试验装置及光传输通道试验方法
摘要 本发明提供一种光脉冲试验装置及光传输通道试验方法,其装置为用于长距离传输的SMF用装置,并且能够以简单的结构进行采用MMF的光传输通道的试验。从光耦合器(22)到光源(21)、连接器(23)及光接收器(25)之间由SMF光路(Fa~Fc)连接,信号处理部(30)上设有将试验对象的光传输通道(1)的光纤种类指定为SMF、MMF中的任一种的光纤种类指定构件(31a)、当指定SMF时指定包含其折射率的试验用参数的SMF参数指定构件(31b)及当指定MMF时指定包含其折射率的试验用参数的MMF参数指定构件(31c),根据包含被指定的光纤的折射率的参数和回光(Pr)的强度数据,求出由被指定的光纤构成的光传输通道(1)相对于距离的传输特性并显示于显示部(50)。
申请公布号 CN102374930A 申请公布日期 2012.03.14
申请号 CN201110228286.5 申请日期 2011.08.10
申请人 安立股份有限公司 发明人 牧达幸;山下治
分类号 G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 李芳华
主权项 一种光脉冲试验装置,其具有:光源(21),出射光脉冲;连接器(23),用于连接光纤的试验对象的光传输通道;光接收器(25);光耦合器(22),接收从所述光源出射的光脉冲并向所述连接器出射,通过所述连接器接收来自光纤的回光,并入射至所述光接收器;操作部(40);显示部(50);及信号处理部(30),接收所述光接收器的输出,并连续取得入射至所述光接收器的回光的强度数据,根据该数据和通过所述操作部指定的试验用参数,求出试验对象的光纤相对于距离的传输特性并显示于所述显示部,其特征在于,从所述光源到所述光耦合器之间、从该光耦合器到所述连接器之间及从所述光耦合器到所述光接收器之间分别通过由单模光纤构成的光路(Fa~Fc)连接,所述信号处理部包括:光纤种类指定构件(31a),根据试验用参数,将试验对象的光纤种类指定为单模光纤、多模光纤中的任一种;SMF参数指定构件(31b),当通过所述光纤种类指定构件指定单模光纤时,指定采用该单模光纤的光传输通道的试验所需的参数,所述参数为包含该单模光纤的折射率的参数;及MMF参数指定构件(31c),当通过所述光纤种类指定构件指定多模光纤时,指定采用该多模光纤的光传输通道的试验所需的参数,所述参数为包含该多模光纤的折射率的参数,当指定所述单模光纤时,根据所述回光的强度数据和通过所述SMF参数指定构件指定的所述参数,求出所述光纤相对于距离的传输特性,当指定所述多模光纤时,根据所述回光的强度数据和通过所述MMF参数指定构件指定的所述参数,求出所述光纤相对于距离的传输特性。
地址 日本神奈川县