发明名称 |
便携式电子装置测试系统 |
摘要 |
本发明提供一种便携式电子装置测试系统,用于测试一便携式电子装置的多项性能,该便携式电子装置测试系统包括一时序控制卡、一组开关元件及一组测试设备,该组测试设备均连接至所述便携式电子装置,该组开关元件的一端分别与时序控制卡相连,另一端连接至相应的测试设备,且该开关元件在时序控制卡的控制下,按照时序导通,进而驱动相应的测试设备工作,使得该组测试设备按照所述时序对该便携式电子装置的多项性能分别进行检测。 |
申请公布号 |
CN102375099A |
申请公布日期 |
2012.03.14 |
申请号 |
CN201010254347.0 |
申请日期 |
2010.08.16 |
申请人 |
深圳富泰宏精密工业有限公司 |
发明人 |
李光臣 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种便携式电子装置测试系统,用于测试一便携式电子装置的多项性能,其特征在于:该便携式电子装置测试系统包括一时序控制卡、一组开关元件及一组测试设备,该组测试设备均连接至所述便携式电子装置,该组开关元件的一端分别与时序控制卡相连,另一端连接至相应的测试设备,且该开关元件在时序控制卡的控制下,按照时序导通,进而驱动相应的测试设备工作,使得该组测试设备按照所述时序对该便携式电子装置的多项性能分别进行检测。 |
地址 |
518109 广东省深圳市宝安区龙华镇富士康科技工业园F3区A栋 |