发明名称 AlGaInP发光二极管的制备方法
摘要 AlGaInP发光二极管的制备方法。是将发光二极管芯片半切后用腐蚀方法制成,工艺步骤为将发光二极管芯片半切,半切深度40~60um;放置在2寸的真空吸盘上,开启真空;用腐蚀液,对芯片表面进行腐蚀;20~120秒后开启匀速旋转设备,将腐蚀液甩掉,然后冲水;用氮气枪吹干。所述腐蚀液为氨水-双氧水-无离子水溶液(体积配比为1∶2~5∶1)或次氯酸钠腐蚀液(配比为1∶15~20)。腐蚀进行1~2次。通过湿法腐蚀的方法,对任意尺寸发光二极管芯片均适用,亮度提升明显,可以高达12~35%,具有良好的重复性。并且本发明提供的方法设备简单,工艺简单,成本低,尤其适合小尺寸芯片的量产。
申请公布号 CN102376827A 申请公布日期 2012.03.14
申请号 CN201010253677.8 申请日期 2010.08.13
申请人 大连美明外延片科技有限公司 发明人 肖志国;高百卉;常远;高本良;武胜利;王力明;陈向东
分类号 H01L33/00(2010.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 代理人
主权项 AlGaInP发光二极管的制备方法,其特征在于将发光二极管芯片半切后用腐蚀方法制成,工艺步骤为:(1)将发光二极管芯片半切,半切深度40‑60um;(2)将整片芯片放置在2寸的真空吸盘上,开启真空;(3)向漏斗里倒入腐蚀液,使腐蚀液均匀的平铺在芯片表面,对芯片进行腐蚀;(4)20~120秒后开启匀速旋转设备,将腐蚀液甩掉,然后冲水;(5)用氮气枪吹干。所述腐蚀液为氨水‑双氧水‑无离子水腐蚀液或次氯酸钠腐蚀液;氨水‑双氧水‑无离子水腐蚀液中氨水、双氧水与无离子水的体积配比为1∶2~5∶1;次氯酸钠腐蚀液中次氯酸钠溶液与水的体积配比为1∶15~20;其中:氨水浓度为28~30%;双氧水的浓度为30~32%;次氯酸钠溶液浓度为5~7%。
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