决定非挥发性记忆体中错误更正码区块之位元数的方法

摘要

本发明系提供一种决定一非挥发性记忆体中错误更正码区块之位元数的方法。该非挥发性记忆体中每一个错误更正码区块具有M个位元组，并使用一第一错误更正码且该第一错误更正码具有E个可更正的错误位元数。该方法包含有：测试该非挥发性记忆体；以及当该非挥发性记忆体之一资料区段的错误位元数大于E时，将该非挥发性记忆体之每一个错误更正码区块的大小由M个位元组调整成N个位元组，并使用一第二错误更正码且该第二错误更正码具有F个可更正的错误位元数。