发明名称 |
薄膜形成方法、半导体装置之制造方法、半导体装置及薄膜形成装置 |
摘要 |
一种在处理容器内之被处理基板形成薄膜之薄膜形成方法,系使用由:由重复将不包含卤元素之有机金属化合物所成之第1原料气体供应给前述处理容器内后,由前述处理容器内去除前述第1原料气体之第1工程,及将包含氢气或氢化合物之第2原料气体供应给前述处理容器内后,由前述处理容器内去除前述第2原料气体之第2工程所成之第1薄膜成长工程;及由重复将由金属卤化物所成之第3原料气体供应给前述处理容器内后,由前述处理容器内去除前述第3原料气体之第3工程,及将包含氢气或氢化合物之第4原料气体供应给前述处理容器内后,由前述处理容器内去除前述第4原料气体之第4工程所成之第2薄膜成长工程所成之薄膜形成方法。 |
申请公布号 |
TWI359876 |
申请公布日期 |
2012.03.11 |
申请号 |
TW093117387 |
申请日期 |
2004.06.16 |
申请人 |
东京威力科创股份有限公司 日本 |
发明人 |
石坂忠大;大岛康弘;吉井直树;重冈隆;川村刚平;福田幸夫;小岛康彦 |
分类号 |
C23C16/34;C23C16/44;H01L21/205 |
主分类号 |
C23C16/34 |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼 |
主权项 |
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地址 |
日本 |