发明名称 薄膜形成方法、半导体装置之制造方法、半导体装置及薄膜形成装置
摘要 一种在处理容器内之被处理基板形成薄膜之薄膜形成方法,系使用由:由重复将不包含卤元素之有机金属化合物所成之第1原料气体供应给前述处理容器内后,由前述处理容器内去除前述第1原料气体之第1工程,及将包含氢气或氢化合物之第2原料气体供应给前述处理容器内后,由前述处理容器内去除前述第2原料气体之第2工程所成之第1薄膜成长工程;及由重复将由金属卤化物所成之第3原料气体供应给前述处理容器内后,由前述处理容器内去除前述第3原料气体之第3工程,及将包含氢气或氢化合物之第4原料气体供应给前述处理容器内后,由前述处理容器内去除前述第4原料气体之第4工程所成之第2薄膜成长工程所成之薄膜形成方法。
申请公布号 TWI359876 申请公布日期 2012.03.11
申请号 TW093117387 申请日期 2004.06.16
申请人 东京威力科创股份有限公司 日本 发明人 石坂忠大;大岛康弘;吉井直树;重冈隆;川村刚平;福田幸夫;小岛康彦
分类号 C23C16/34;C23C16/44;H01L21/205 主分类号 C23C16/34
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本