Semiconductor package inspection device

摘要

상기와 같은 본 발명에 의하면, 낱개의 기판은 물론, 매거진에 수납된 다수의 기판을 하나의 장치에서 검사할 수 있어 종래 별도로 제작된 각 장치들의 제작 및 설치에 관한 비용을 절감시키고, 작업 효율성을 향상시킬 수 있다.