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Eine Latch-basierte Speichervorrichtung 5 umfasst mehrere Latches und ein Verfahren zum Testen der Latch-basierten Speichervorrichtung, das das serielle Verbinden der Latches miteinander umfasst, um eine Schieberegisterkette zu bilden. Eine Bitsequenz wird in die Schieberegisterkette eingegeben, um die Bitsequenz durch die Schieberegisterkette zu schieben. Eine Bitsequenz wird ausgegeben und durch die Schieberegisterkette geschoben und die Eingangsbitsequenz wird mit der Ausgangssequenz verglichen, um die Funktionalität der Latches in einer ersten Testphase auszuwerten und die restlichen Strukturen der Latch-basierten Speichervorrichtung in einer zweiten Testphase unter Verwendung von z. B. einer herkömmlichen Abtasttestmethode zu testen.
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