| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Lichtmikroskop, insbesondere ein Differentielles Interferenzkontrast-Mikroskop und/oder Polarisationsmikroskop und/oder Fluoreszenzmikroskop, mit einem mikroskopischen Strahlengang für Durchlicht- und/oder Auflichtmikroskopie, in dem eine Probe, insbesondere über einen Kondensor, mit Beleuchtungslicht beaufschlagbar ist, mit einem im Strahlengang angeordneten Polarisator zum Polarisieren des Beleuchtungslichts, mit einem im Strahlengang angeordneten Analysator zum Analysieren von von der Probe kommendem Licht, und mit einem im Strahlengang angeordneten Objektiv zum Abbilden der in einem Probenbereich anzuordnenden Probe. Das Lichtmikroskop ist dadurch gekennzeichnet, dass zum mindestens teilweisen Ausgleich von Depolarisationseffekten, die von zwischen dem Polarisator und dem Analysator angeordneten optischen Komponenten, insbesondere von dem Objektiv, bewirkt werden, in dem Strahlengang eine Kompensationseinrichtung vorhanden ist, die bei Auflichtmikroskopie zwischen dem Probenbereich und dem Objektiv und bei Durchlichtmikroskopie zwischen dem Kondensor und dem Objektiv angeordnet ist. Die Erfindung betrifft außerdem ein optisches Modul zum Anordnen in einem mikroskopischen Strahlengang eines Lichtmikroskops. |
