发明名称 |
触控屏上侦测多点触碰的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种触控屏上侦测多点触碰的方法,所述触控屏上设置有两层ITO,每层ITO上均由若干长条状的电极块组成,其利用扫描一个方向上的电极块来侦察触碰点的具体位置。本发明所述的方法,由于在很多情况下,扫描一次就可以侦测出触碰点的位置点坐标,所以侦测的速度提高了很多;再者,本发明所述的利用扫描时激励源的输出波形来判断触碰点位置的方法也非常简单,提高了侦测的准确率。 |
申请公布号 |
CN102368186A |
申请公布日期 |
2012.03.07 |
申请号 |
CN201110292068.8 |
申请日期 |
2011.09.30 |
申请人 |
苏州瀚瑞微电子有限公司 |
发明人 |
李海;陈奇 |
分类号 |
G06F3/041(2006.01)I |
主分类号 |
G06F3/041(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种触控屏上侦测多点触碰的方法,所述触控屏上设置有两层ITO,每层ITO上均由若干长条状的电极块组成,其步骤如下:首先,将每个电极块的其中一端作驱动电极,另一端作为探测电极逐次扫描一个方向上的电极块,侦测此时感应量的变化波形图;其次,判断上述波形图中是否出现了大于预设门槛值的感应峰值;若满足,且触碰点的个数与峰值的数目相同,则表明该峰值处有触控对象触碰,且触控对象在此方向上的具体位置根据峰值及其附近的一组感应量数据确定;最后,根据上述波形图中的峰值与无触碰状态下输出波形图的峰值的差值判断触碰点在另一个方向上的位置坐标。 |
地址 |
215163 江苏省苏州市高新区科技城培源路2号微系统园M1栋3楼 |