发明名称 | 5线型电阻膜类型触摸面板的制造装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种坐标检测设备的制造装置,该坐标检测设备包括形成在基板上的电阻膜和向该电阻膜施加电压的共用电极,其中,在电阻膜上产生电位分布,检测出电阻膜在接触位置处的电位,并且检测出电阻膜的接触位置的坐标。在该制造装置中,激光光源照射激光以除去电阻膜的一部分,形成电阻膜除去部分;光学系统使激光会聚;多个探头在共用电极向电阻膜提供电压的情况下测量电阻膜的表面的电位;X-Y工作台至少二维地使基板移动;控制部分控制X-Y工作台和激光光源。 | ||
申请公布号 | CN101582003B | 申请公布日期 | 2012.03.07 |
申请号 | CN200910139059.8 | 申请日期 | 2009.05.15 |
申请人 | 富士通电子零件有限公司 | 发明人 | 近藤幸一 |
分类号 | G06F3/045(2006.01)I | 主分类号 | G06F3/045(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 吕林红 |
主权项 | 一种5线型电阻膜类型触摸面板的制造装置,该5线型电阻膜类型触摸面板包括形成在基板上的电阻膜和向该电阻膜施加电压的共用电极,其中,在电阻膜上产生电位分布,检测出所述电阻膜在与探头接触的位置处的电位,并且检测出所述电阻膜上的该位置的坐标,该制造装置包括:激光光源,从所述基板的、与形成有所述电阻膜的面相反的面照射激光以除去所述5线型电阻膜类型触摸面板的电阻膜的一部分,形成电阻膜除去部分;光学系统,使激光会聚;多个探头,所述多个探头设置在与设置有所述激光光源的一侧相反的一侧,并且在经由所述共用电极向所述5线型电阻膜类型触摸面板的电阻膜施加了电压的状态下测量所述电阻膜的表面的电位;X‑Y工作台,至少二维地使所述5线型电阻膜类型触摸面板的基板移动;以及控制部分,控制所述X‑Y工作台和所述激光光源。 | ||
地址 | 日本东京都 |