发明名称 |
一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,包括去除铜基的μm级纯超导丝材,以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。本实用新型所述μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,可以克服现有技术中测量角度准确性差、实验可靠性低与低温下测量误差大等缺陷,以实现测量角度准确性好、实验可靠性高与低温下测量误差小的优点。 |
申请公布号 |
CN202158842U |
申请公布日期 |
2012.03.07 |
申请号 |
CN201120251093.7 |
申请日期 |
2011.07.15 |
申请人 |
兰州大学 |
发明人 |
王省哲;关明智;周又和 |
分类号 |
G01B11/16(2006.01)I;G01B7/16(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/16(2006.01)I |
代理机构 |
北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 |
代理人 |
刘震 |
主权项 |
一种 μm级超导丝材低温下光电联合测量系统,其特征在于,包括去除铜基的μm级纯超导丝材,以及分别与所述μm级纯超导丝材配合设置的μm级超导丝材光学测量装置、及μm级超导丝材电学测量装置。 |
地址 |
730000 甘肃省兰州市城关区天水路222号 |