发明名称 Verfahren und System zum Messen eines Nachlaufs
摘要 Verfahren zum Messen eines Vor- oder Nachlaufs eines Rades eines Fahrzeugs, umfassend die maschinen-implementierten Schritte: Bereitstellen eines Maschinensichtsystems (100), das eine optische Abbildungsvorrichtung (110, 112) zum Ausbilden eines Sichtpfads mit einem Ziel (118, 120, 122, 124), das an dem Rad festgelegt ist, und zum entsprechenden Erzeugen von Positionssignalen des Rads, und einen Datenprozessor (300) zum Empfangen und Verarbeiten der Positionssignale umfasst; Bestimmen eines Nachlaufwinkels des Rads unter Verwendung des Maschinensichtsystems (100) basierend auf einem ersten Positionssignal des Rads, das von der optischen Abbildungsvorrichtung (110, 112) erzeugt wird, wenn das Rad mit einem ersten Lenkwinkel in eine erste Lenkposition gedreht wird, und einem zweiten Positionssignal des Rads, das von der optischen Abbildungsvorrichtung (110, 112) erzeugt wird, wenn das Rad in der anderen Richtung um den identischen ersten Winkel in eine zweite Lenkposition gedreht wird; Bestimmen von räumlichen Charakteristika einer Lenkachse (14) des Rads auf Basis des Nachlaufwinkels;...
申请公布号 DE10393821(B4) 申请公布日期 2012.03.01
申请号 DE20031093821 申请日期 2003.11.18
申请人 SNAP-ON TECHNOLOGIES, INC. 发明人 JACKSON, DAVID A.;GLICKMAN, STEPHEN L.;DALE, JAMES L. JUN.
分类号 G01B5/255;G01B5/00;G01B7/315;G01B11/275;G01B21/26 主分类号 G01B5/255
代理机构 代理人
主权项
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