发明名称 |
GRABENSTRUKTUREN IN DIREKTEM KONTAKT |
摘要 |
Eine Halbleiterstruktur (10) enthält ein Halbleitersubstrat (12) von einer ersten Leitfähigkeit, eine Epitaxialschicht (14) von einer zweiten Leitfähigkeit auf dem Substrat (12) und eine zwischen dem Substrat (12) und der Epitaxialschicht (14) angeordnete vergrabene Schicht (16) von der zweiten Leitfähigkeit. Eine erste Grabenstruktur (17) erstreckt sich durch die Epitaxialschicht (14) und die vergrabene Schicht (16) zu dem Substrat (12) und enthält eine Seitenwandisolation (22) und leitendes Material (24) in elektrischem Kontakt mit dem Substrat (12) an einem Boden (26) der ersten Grabenstruktur (17). Eine zweite Grabenstruktur (18) erstreckt sich durch die Epitaxialschicht (14) zu der vergrabenen Schicht (16) und enthält eine Seitenwandisolation (28) und leitendes Material (30) in elektrischem Kontakt mit der vergrabenen Schicht (16) an einem Boden (32) der zweiten Grabenstruktur (18). Ein Gebiet (38) aus Isoliermaterial erstreckt sich seitlich von dem leitenden Material (24) der ersten Grabenstruktur (17) zu dem leitenden Material (30) der zweiten Grabenstruktur (18) und erstreckt sich in Längsrichtung zu einer wesentlichen Tiefe (DT2) der zweiten Grabenstruktur (18). |
申请公布号 |
DE102011053147(A1) |
申请公布日期 |
2012.03.01 |
申请号 |
DE20111053147 |
申请日期 |
2011.08.31 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
ELATTARI, BRAHIM;HIRLER, FRANZ, DR. |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/336;H01L21/762 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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