发明名称 一种射流质量流量测量方法及测量装置
摘要 本发明公开了一种射流质量流量测量方法,属于流体测量技术领域。本发明的测量方法利用射流振荡元件喷嘴处的质量流量,与射流喷嘴、射流出口之间差压的平均值和射流振荡频率的比值之间成正比的关系,可直接测量得到质量流量。本发明还公开了一种射流质量流量测量装置,利用差压传感器实时测量射流喷嘴、射流出口之间差压,然后通过计算得到射流质量流量。相比现有技术,本发明不需要进行温差补偿即可直接得到射流的质量流量,测量装置的结构更简单,成本更低,测量误差更小。
申请公布号 CN102364308A 申请公布日期 2012.02.29
申请号 CN201110314436.4 申请日期 2011.10.17
申请人 南京航空航天大学 发明人 白亚磊;钟伟;李鹏
分类号 G01F1/88(2006.01)I 主分类号 G01F1/88(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 许方
主权项 一种射流质量流量测量方法,使射流通过射流振荡元件,产生振荡射流,通过测量振荡射流的参数,得到射流的质量流量,其特征在于,具体包括以下步骤:步骤A、使射流通过射流振荡元件,产生振荡射流;步骤B、测量射流振荡元件的射流喷嘴和射流出口的差压;步骤C、根据下式计算射流的质量流量:Q =K*(DP/f)  ,式中,Q表示射流的质量流量;DP表示射流振荡元件的射流喷嘴、射流出口的差压平均值;f表示射流的振荡频率;K为比例系数,对于特定的射流振荡元件,其为定值,根据实验预先标定得到。
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