| 发明名称 | 盘片层数判别方法 | ||
| 摘要 | 一种盘片层数判别方法，首先依序调整至两数据层的标准SA值；使焦点穿越盘片进行聚焦行程；记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号；检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相等，则判别为双数据层盘片，不相等则判别为单数据层盘片。 | ||
| 申请公布号 | CN101826353B | 申请公布日期 | 2012.02.29 |
| 申请号 | CN200910004641.3 | 申请日期 | 2009.03.02 |
| 申请人 | 广明光电股份有限公司 | 发明人 | 徐嘉星;谢明宗;萧亦隆 |
| 分类号 | G11B19/12(2006.01)I | 主分类号 | G11B19/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 史新宏 |
| 主权项 | 一种盘片层数判别方法，使用于光驱，其步骤包含：(1)调整至两数据层之一的标准像差值；(2)进行聚焦行程；(3)记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号；(4)检查是否完成调整每一数据层的标准像差值，假如未完成，回至步骤(1)，假如已完成，则进入步骤(5)；(5)检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号是否相等，假如相等，判别为双数据层盘片，假如不相等，则判别为单数据层盘片，其中该标准像差值是光驱针对各种盘片规格所定的数据层标准位置，测试储存有相对应设定的标准像差值。 | ||
| 地址 | 中国台湾桃园县 | ||