发明名称 |
电路参数检测的方法和装置 |
摘要 |
本发明实施例提出一种电路参数检测的方法包括以下步骤:测试电路选取待测电路中的至少两个节点;在待测电路处于通电工作状态时,测试电路测量得到所述节点的工作电压值;在待测电路处于断电状态时,测试电路给所述节点提供测试电流,在所述节点之间形成电连接通路,测试电路计算各节点的测试电流值和所述测试电压值;根据所述节点的各工作电压值、所述测试电流值、和所述测试电压值,计算得到待测电路处于通电正常工作状态时的工作电流值。本发明实施例通过提出的所述检测方法和使用上述方法的装置,避免了现有技术测试时破坏设备的电路物理结构和外观的缺陷,很好适用于芯片等电子器件在线工作状态电路参数的检测。 |
申请公布号 |
CN101614785B |
申请公布日期 |
2012.02.29 |
申请号 |
CN200810068224.0 |
申请日期 |
2008.06.27 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
晋兆国;朱勇发;韩承章;贾荣华 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 |
代理人 |
彭愿洁;李文红 |
主权项 |
一种电路参数检测的方法,其特征在于,包括以下步骤:测试电路选取待测电路中的至少两个节点,所述节点包括至少一个电子器件管脚;在待测电路处于通电工作状态时,测试电路测量得到所述节点的工作电压值;在待测电路处于断电状态时,测试电路给所述节点提供测试电流,在所述节点之间形成电连接通路,测试电路计算各节点的测试电流值和所述测试电压值;根据所述节点的各工作电压值、所述测试电流值、和所述测试电压值,计算得到待测电路处于通电正常工作状态时的工作电流值。 |
地址 |
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |