发明名称 |
玻璃基板、使用该玻璃基板的检测方法以及矩阵掩模 |
摘要 |
本发明涉及一种玻璃基板,其包括多个面板结构以及多个测试元件。面板结构彼此分离,其中每一个面板结构包括黑矩阵以及彩色滤光层。黑矩阵在玻璃基板上定义出多个像素单元。彩色滤光层配置在像素单元上。多个测试元件位于面板结构的外围,测试元件具有多个虚拟像素单元,虚拟像素单元的图案区别于像素单元的图案,且虚拟像素单元中具有标准缺陷图案。另外,本发明还提出一种使用上述玻璃基板的检测方法以及制作该玻璃基板的矩阵掩模。 |
申请公布号 |
CN101699332B |
申请公布日期 |
2012.02.29 |
申请号 |
CN200910159805.X |
申请日期 |
2009.06.29 |
申请人 |
深超光电(深圳)有限公司 |
发明人 |
潘星佑 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1362(2006.01)I;G03F1/44(2012.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
何青瓦;李庆波 |
主权项 |
一种玻璃基板,其特征在于,包括:多个面板结构,该多个面板结构彼此分离,其中每一个面板结构包括:黑矩阵,在该玻璃基板上定义出多个像素单元;彩色滤光层,配置在该多个像素单元上;以及多个测试元件,位于该多个面板结构的外围,该多个测试元件具有多个由黑矩阵定义的虚拟像素单元,该多个虚拟像素单元的图案区别于该多个像素单元的图案,且该多个虚拟像素单元中具有标准缺陷图案。 |
地址 |
518100 广东省深圳市宝安区龙华街道办民清路北深超光电科技园A栋首层 |