X-ray inspection apparatus,申请号KR20100047951-传众专利搜索

发明名称	X-ray inspection apparatus
摘要
申请公布号	KR101114569(B1)	申请公布日期	2012.02.27
申请号	KR20100047951	申请日期	2010.05.24
申请人		发明人
分类号	H05K13/08;H05G1/02;H05K13/02	主分类号	H05K13/08
代理机构		代理人
主权项
地址