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经营范围
发明名称
MULTI BIT TEST CONTROL CIRCUIT
摘要
申请公布号
KR101115456(B1)
申请公布日期
2012.02.24
申请号
KR20090104685
申请日期
2009.10.30
申请人
发明人
分类号
G01R31/317;G11C29/00
主分类号
G01R31/317
代理机构
代理人
主权项
地址
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