Messverfahren und Messanordnung mit einem stochastischen Punktemuster sowie stochastisches Punktemuster zur Verwendung dabei

摘要

Messverfahren, bei dem ein stochastisches Punktemuster (6) auf einer Oberfläche mit einer Kamera in Abbildungen der Oberfläche erfasst wird und bei dem Verschiebungen von Punkten (2, 5) des Punktemusters in den Abbildungen der Oberfläche Lageveränderungen oder Deformationen der Oberfläche oder Schlieren über der Oberfläche anzeigen, dadurch gekennzeichnet, dass das Punktemuster (6) durch die Überlagerung von mindestens zwei Grundmustern (1, 4) mit unterschiedlichen Punktegrößen ausgebildet wird, wobei das Grundmuster (1) mit den kleineren Punkten (2) so über die größeren Punkte (5) des Grundmusters (4) mit den größeren Punkten (5) fortgesetzt wird, dass die kleineren Punkte (2) innerhalb der größeren Punkte (2) unterscheidbar sind.