发明名称 用于检测方位角的方法和装置
摘要 一种用于检测方位角的装置具有发射阵列天线和接收阵列天线,其中发射阵列天线具有多个沿阵列轴排列的发射天线单元,接收阵列天线具有多个沿阵列轴排列的接收天线单元。通过发送和接收搜索波通过每个信道来获取针对每个信道的接收信号。所述信道是发射天线单元中的每一个和接收天线单元中的每一个的任意组合。利用接收信号,沿发射天线单元和接收天线单元中的任何一个的阵列轴执行第一空间频率分析。然后,利用第一空间频率分析的结果,沿天线单元中另一个的阵列轴执行第二空间频率分析。基于来自第二空间频率分析的分析结果确定目标的方位角。
申请公布号 CN102360077A 申请公布日期 2012.02.22
申请号 CN201110200980.6 申请日期 2011.06.07
申请人 株式会社电装 发明人 水谷玲义;中林健人;夏目一马
分类号 G01S13/06(2006.01)I 主分类号 G01S13/06(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 张扬;王英
主权项 一种用于检测从存在于场所中的装置来看的方位角的装置(1、10),所述装置包括:具有沿预先设定的阵列轴排列的多个发射天线单元(AT1 AT4)的发射阵列天线(2),以及具有沿所述阵列轴排列的多个接收天线单元(AR1 AR4)的接收阵列天线(3);信号获取模块(8(S110 180)、3、4、6、7、13),用于通过发送和接收通过每一个信道的搜索波来获取针对每一个信道的接收信号,其中所述信道是每一个所述发射天线单元和每一个所述接收天线单元的任意组合;第一分析模块(8;S190),用于利用由所述信号获取模块所获取的接收信号,沿所述发射天线单元和所述接收天线单元中任意一个的阵列轴执行第一空间频率分析;第二分析模块(8;S200),用于利用所述第一空间频率分析的结果,沿所述发射天线单元和所述接收天线单元中另一个的阵列轴执行第二空间频率分析;以及方位角计算模块(8;S210),用于根据来自所述第二空间频率分析的分析结果,确定反射所述搜索信号的目标的方位角。
地址 日本爱知县