| 发明名称 | 电子标签性能测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种电子标签性能测试方法。该方法包括：利用圆周运动模拟直线运动测试电子标签性能；结合速度修正因子，分析直线运动时多普勒频移对标签性能的影响。本发明电子标签性能测试方法能够在受限的地域进行高速直线运动状态下的标签性能测试，保证测试过程的安全性；同时采用速度修正因子，比较Doppler频移的理论值和实际测试结果，从而实现通过测试低速圆周运动状态下读写器对标签的识读率来模拟直线高速运动状态下Doppler效应对标签识读率性能的影响。 | ||
| 申请公布号 | CN102360439A | 申请公布日期 | 2012.02.22 |
| 申请号 | CN201110325457.6 | 申请日期 | 2011.10.24 |
| 申请人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明人 | 赵红胜;谭杰;朱智源 |
| 分类号 | G06K17/00(2006.01)I | 主分类号 | G06K17/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 周国城 |
| 主权项 | 一种电子标签性能测试方法，其特征在于，包括：利用圆周运动模拟直线运动测试电子标签性能；结合速度修正因子，分析直线运动时多普勒频移对标签性能的影响。 | ||
| 地址 | 100190 北京市海淀区中关村东路95号 | ||