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发明名称 Fatigue test device and method for testing thin plate
摘要
申请公布号 EP1376097(B1) 申请公布日期 2012.02.22
申请号 EP20030013837 申请日期 2003.06.18
申请人 HONDA GIKEN KOGYO KABUSHIKI KAISHA 发明人 ISHI, KAZUO;ODAGIRI, YOSHIHIRO;ISHII, HITOSHI
分类号 G01N3/32;G01N3/34;G01N3/00;G01N3/02 主分类号 G01N3/32
代理机构 代理人
主权项
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