发明名称 |
基于激光诱导击穿光谱的普通黄铜全元素分析装置及方法 |
摘要 |
一种基于激光诱导击穿光谱的普通黄铜全元素分析装置及方法,属于分析化学技术领域。装置包括激光器、光谱仪、延时发生器、聚焦透镜、搜集透镜、光纤、样本、计算机;激光器和光谱仪分别和延时发生器相连,光谱仪和计算机相连,光纤和光谱仪相连,聚焦透镜设置在激光器和样本之间,搜集透镜通过光纤与光谱仪连接。分析方法包括Cu、Pb、Fe、Ni元素的工作曲线的建立,以及工作曲线的验证。用于分析普通黄铜的Cu、Pb、Fe、Ni元素的含量。 |
申请公布号 |
CN102359953A |
申请公布日期 |
2012.02.22 |
申请号 |
CN201110280889.X |
申请日期 |
2011.09.21 |
申请人 |
冶金自动化研究设计院 |
发明人 |
吴少波;张云贵;孙彦广;李潘;于立业;苏胜石 |
分类号 |
G01N21/63(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/63(2006.01)I |
代理机构 |
北京华谊知识产权代理有限公司 11207 |
代理人 |
刘月娥 |
主权项 |
一种基于激光诱导击穿光谱的普通黄铜全元素分析装置,包括激光器、光谱仪、延时发生器、聚焦透镜、搜集透镜、光纤、样本、计算机;其特征在于,激光器(1)和光谱仪(2)分别和延时发生器(3)相连,光谱仪(2)和计算机(8)相连,光纤(6)和光谱仪(2)相连,聚焦透镜(4)设置在激光器(1)和样本(7)之间,搜集透镜(5)通过光纤(6)与光谱仪(2)连接;激光器(1)按0.1~1s周期发射脉冲激光,发出的激光经过聚焦透镜(4)后汇聚在样本(7)的表面形成光斑,光斑烧蚀样本(7)形成高温等离子体,等离子体迅速冷却后产生和样本成分相关的特征光谱,特征光谱经搜集透镜(5)汇入光纤(6),并经光纤(6)传递到光谱仪(2);激光器(1)在发出脉冲激光的同时,发出一个指示信号给延时发生器(3);延时发生器(3)接收到指示信号后,延时预设的时间,再触发光谱仪(2)读取激光烧蚀样本产生的等离子体光谱。 |
地址 |
100071 北京市丰台区西四环南路72号 |