发明名称 用于一晶片封装构造之对位装置
摘要 本发明系关于一种用于一晶片封装构造之对位装置。晶片封装构造包含一可挠性基板、一导电层及一晶片,可挠性基板具有一晶片覆盖区,晶片覆盖区包含一周边区域。导电层系形成于晶片覆盖区上,并将周边区域界定成复数引脚区及复数无引脚区。晶片则设于导电层上。对位装置包含至少一第一对位标记及至少一第二对位标记,前者形成于晶片覆盖区之至少一角隅上,后者则形成于晶片之一主动面。当晶片电性定位于晶片覆盖区上时,至少一第二对位标记适可对应至少一第一对位标记。
申请公布号 TWI358810 申请公布日期 2012.02.21
申请号 TW096138202 申请日期 2007.10.12
申请人 南茂科技股份有限公司 新竹县宝山乡新竹科学工业园区研发一路1号;百慕达南茂科技股份有限公司 百慕达 发明人 陈纬铭
分类号 H01L23/544;H01L21/52 主分类号 H01L23/544
代理机构 代理人 陈翠华 台北市松山区南京东路3段261号6楼
主权项
地址 百慕达