发明名称 PROCEDIMIENTO DE REALIZACION DE DEPOSITOS LOCALIZADOS.
摘要 Procedimiento de realización de un depósito (14) no continuo de un primer material sobre un substrato (2), que incluye: a) la formación de una máscara sobre este substrato (2), mediante la formación de al menos dos capas (4, 6) de máscara, una capa superior (6) y una capa inferior (4), la más próxima al substrato (2), y el grabado de al menos una cavidad (100, 10, 10'', 12, 12'') en estas capas (4, 6), teniendo la citada al menos una cavidad (100, 10, 10'', 12, 12'') un perfil tal que un depósito (14) realizado sobre el substrato (2), a través de la citada al menos una cavidad (100, 10, 10'', 12, 12'') de la máscara, presenta al menos una discontinuidad sobre el perfil de la citada al menos una cavidad (100, 10, 10'', 12, 12''), b) el depósito (14) del primer material (14, 16, 14'', 16''), de silicio amorfo, sobre el substrato (2), a través de la citada al menos una cavidad (100, 10, 10'', 12, 12'') de la máscara, incluyendo este depósito (14) al menos una discontinuidad sobre el perfil de la citada al menos una cavidad (100, 10, 10'', 12, 12''), y a continuación la oxidación del silicio amorfo, c) la eliminación de la máscara.
申请公布号 ES2374565(T3) 申请公布日期 2012.02.17
申请号 ES20080735767T 申请日期 2008.04.03
申请人 COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES 发明人 REMIAT, BRUNO;VANDROUX, LAURENT;SOUCHE, FLORENT
分类号 H01L21/033;H01L21/027 主分类号 H01L21/033
代理机构 代理人
主权项
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