发明名称 Halbleiter-Bauelement
摘要 Verfahren zum Montieren eines Halbleiter-Bauelements, umfassend die folgenden, in der angegebenen Reihenfolge auszuführenden Schritte: Platzieren von mindestens zwei Halbleiterchips auf einem Träger; Platzieren von mindestens zwei Elementen aus elektrisch isolierendem Material auf dem Träger; Aufbringen von Kapselungsmaterial über den mindestens zwei Halbleiterchips und den mindestens zwei Elementen aus elektrisch isolierendem Material, um ein Kapselungswerkstück auszubilden; Erzeugen mindestens eines Durchgangslochs durch jedes der Elemente aus elektrisch isolierendem Material; und Füllen des mindestens einen Durchgangslochs mit einem elektrisch leitenden Material.
申请公布号 DE102009044712(B4) 申请公布日期 2012.02.16
申请号 DE20091044712 申请日期 2009.12.01
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 MEYER, THORSTEN
分类号 H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L23/28;H01L23/50;H01L23/538;H01L25/04 主分类号 H01L21/50
代理机构 代理人
主权项
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