主动元件阵列基板及其检测方法

摘要

本发明是有关一种主动元件阵列基板及其检测方法。此主动元件阵列基板具有显示区与周边电路区，此主动元件阵列基板包括多个像素单元、多条信号导线、多个检测垫以及第一介电层。像素单元是以阵列的方式排列于显示区内，信号导线与检测垫则是配置于周边电路区内，且第一介电层是覆盖住检测垫。此主动元件阵列基板的检测方法则是先移除部分的第一介电层，以暴露出欲与检测工具电性接触的检测垫。也就是说，在进行检测之前，检测垫是与外界电性绝缘，因而能够避免静电荷由检测垫经信号导线对像素单元造成静电击伤，以提高主动元件阵列基板的电路稳定性。

主权项

一种主动元件阵列基板，具有一显示区与一周边电路区，其特征在于该主动元件阵列基板包括：多个像素单元，阵列排列于该显示区内；多条信号导线，配置于该周边电路区内，并电性连接至所述像素单元；多个检测垫，配置于该周边电路区内；以及一第一介电层，覆盖所述检测垫以在该主动元件阵列基板进行检测之前避免所述检测垫暴露在外界。