发明名称 激光器噪声特性的测量装置
摘要 一种激光器噪声特性的测量装置,由激光器噪声波动的转化系统和探测处理系统构成,主要包括环形器,3×3耦合器,第一光开关,第二光开关,光纤,第一法拉第旋转反射镜,第二法拉第旋转反射镜,移频器,第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、第四光电探测器、数据采集卡和计算机。本发明装置能同时测量出激光器的噪声特性,包括激光器的强度噪声功率谱密度、相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽和频率不稳定性的阿仑方差,具有集成度高,结构较简洁的特点,不需要额外的主动控制手段,对待测激光没有任何限制,提高了激光器噪声特性测量的可信度。
申请公布号 CN102353523A 申请公布日期 2012.02.15
申请号 CN201110172609.3 申请日期 2011.06.24
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 杨飞;蔡海文;陈迪俊;瞿荣辉
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种激光器噪声特性的测量装置,特征在于其构成包括激光器噪声波动的转化系统(40)和探测处理系统(400):所述的转化系统(40)由环形器(1)、3×3耦合器(2)、第一光开关(311)和第二光开关(312)、第一法拉第旋转反射镜(4)和第二法拉第旋转反射镜(5)构成并封装于隔热隔音隔振的壳体(41)中,其连接关系如下:所述的3×3耦合器(2)的第一端口(21)与所述的环形器(1)的第二端口(12)经光纤相连。该3×3耦合器(2)的第四端口(24)通过光纤与第一光开关(311)的输入端口(3110)相连,第一光开关(311)输出端的第一(3111)到第M(311M)个端口由M根不同长度的光纤(313、314)一对一的与第二光开关(312)输出端的第一(3121)到第M(312M)个端口相连,第二光开关(312)的输入端口(3120)与所述的第一法拉第旋转反射镜(4)相连,该3×3耦合器(2)的第五端口25通过光纤与所述的第二法拉第旋转反射镜5相连,所述的环形器(1)的第一端口(11)和第三端口(13)分别连接一段光纤至封装壳体外构成转化系统的第一输入端口(401)和第二输出端口(403),所述的3×3耦合器(2)的第六端口(26)、第二端口(22)和第三端口(23)分别连接一段光纤至封装壳体外构成转化系统的第一输出端口(402)、第三输出端口(404)和第四输出端口(405),第一光开关(311)的控制端口(33)和第二光开关(312)的控制端口(34)分别连接一段控制电缆至封装壳体外构成转化系统的第二输入端口(406)、第三输入端口(407);所述的探测处理系统(400)由第一光电探测器(7)、第二光电探测器(8)、第三光电探测器(9)、第四光电探测器(10)、数据采集卡(51)和计算机(52)构成,其连接关系如下:第一光电探测器(7)、第二光电探测器(8)、第三光电探测器(9)和第四光电探测器(10)的输入端分别与所述的转化系统的第一输出端口(402)、第二输出端口(403)、第三输出端口(404)和第四输出端口(405)相连接,第一光电探测器(7)、第二光电探测器(8)、第三光电探测器(9)、第四光电探测器(10)的输出端与所述的数据采集卡(51)连接,所述的数据采集卡(51)与所述的计算机(52)相连,所述的计算机(52)还与所述的转化系统的第二输入端口(406)、第三输入端口(407)相连;所述的计算机(52)通过对第一光电探测器(7)的光电流数据进行功率谱估计得到强度噪声功率谱密度,通过对由第二光电探测器(8)、第三光电探测器(9)、第四光电探测器(10)的光电流数据解调出来的相位噪声波动进行功率谱估计得到相位噪声功率谱密度。
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