发明名称 | 提高Si/Ge发射极窗口图形保真度的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种提高Si/Ge发射极窗口图形保真度的方法,包括如下步骤:步骤1,设计Si/Ge发射极窗口版图;步骤1具体包括:(1)将一矩形图形沿中心对称在长轴方向将图形切为三部分,其中两端部分相同大小,其余为中间部分;(2)将切分出来的两端部分与中间部分设置一个合理的间距;(3)将两端部分切分为数个有一定间距的小孔的结构;(4)最后对中间部分进行处理,可以拆分为数个有一定间距的图形的组,或保持一整个矩形结构不做拆分;步骤2,采用步骤1设计的Si/Ge发射极窗口版图进行光学临近修正,利用所述版图的小孔过曝光时会产生旁瓣的原理,使之最终形成近似于方形的图形。 | ||
申请公布号 | CN101923281B | 申请公布日期 | 2012.02.15 |
申请号 | CN200910057427.4 | 申请日期 | 2009.06.17 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 王雷 |
分类号 | G03F1/36(2012.01)I | 主分类号 | G03F1/36(2012.01)I |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 王函 |
主权项 | 一种提高Si/Ge发射极窗口图形保真度的方法,其特征是,包括如下步骤:步骤1,设计Si/Ge发射极窗口版图;步骤1具体包括:(1)将一矩形图形沿中心对称在长轴方向将图形切为三部分,其中两端部分相同大小,其余为中间部分;(2)将切分出来的两端部分与中间部分设置一个合理的间距;(3)将两端部分切分为数个有一定间距的小孔的结构;(4)最后对中间部分进行处理,可以拆分为两个有一定间距的矩形结构,或拆分为数个有一定间距的小孔的组合,或保持一整个矩形结构不做拆分;步骤2,采用步骤1设计的Si/Ge发射极窗口版图进行光学临近修正,利用所述版图的小孔过曝光时会产生旁瓣的原理,使之最终形成近似于方形的图形。 | ||
地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |