发明名称 氮化物系发光元件表面长晶凸起图型化结构
摘要 一种氮化物系发光元件表面长晶凸起图型化结构,包含:一基板;一第一型半导体层,系形成于该基板上,其系由氮化镓(GaN)系化合物材料所构成;一活性层,系形成于该第一型半导体层上,一第二型半导体层,系形成于该活性层上,其系由氮化镓(GaN)系化合物材料所构成;且在此型半导体层的最顶面再向上长晶形成凸起并具图型化(pattern)之粗糙表面。藉此,减少全反射之效应,提升光取出效率(light extraction efficiency),且图型化之凸起粗化结构,具有再现性之特点,可确保产品之可靠度。
申请公布号 TWM323689 申请公布日期 2007.12.11
申请号 TW096207622 申请日期 2007.05.11
申请人 华上光电股份有限公司 发明人 张盼梓;吴育儒
分类号 H01L33/00(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种氮化物系发光元件表面长晶凸起图型化结 构,包含: 一基板; 一第一型半导体层,系形成于该基板上,其系由氮 化镓(GaN)系化合物材料所构成; 一活性层,系形成于该第一型半导体层上; 一第二型半导体层,系形成于该活性层上,其系由 氮化镓(GaN)系化合物材料所构成;且在此型半导体 层的最顶面再向上长晶设有凸起并具图型化( pattern)之粗糙表面。 2.如申请专利范围第1项所述之氮化物系发光元件 表面长晶凸起图型化结构,其中,该第二型半导体 层包括为一p型披覆层,而该凸起并具图型化之粗 糙表面系成长在该p型披覆层之上。 3.如申请专利范围第1项所述之氮化物系发光元件 表面长晶凸起图型化结构,其中,该第二型半导体 包括:一形成于该活性层上之p型披覆层,及一形成 于该p型披覆层上之p型接触层,而该凸起并具图型 化之粗糙表面系成长在该p型接触层之上。 4.如申请专利范围第1项所述之氮化物系发光元件 表面长晶凸起图型化结构,其中,该第二型半导体 层包括:一形成于该活性层上之p型披覆层,及一形 成于该p型披覆层上之透明导电层,而该凸起并具 图型化之粗糙表面系成长在该透明导电层之上。 5.如申请专利范围第1项所述之氮化物系发光元件 表面长晶凸起图型化结构,其中,该第二型半导体 层包括:一形成于该活性层上之p型披覆层;一形成 于该p型披覆层上之p型接触层;以及一形成于该p型 接触层上之透明导电层;而该凸起并具图型化( pattern)之粗糙表面系成长在该透明导电层之上。 6.如申请专利范围第1项所述之氮化物系发光元件 表面长晶凸起图型化结构,其中,该第一型半导体 层包括为一n型披覆层,且其设有一n型电极于该n型 披覆层未被该活性层覆盖之上表面。 7.如申请专利范围第1项所述之氮化物系发光元件 表面长晶凸起图型化结构,其中,该第二型半导体 层之最顶面上更包括设有一p型电极。 8.如申请专利范围第1项所述之氮化物系发光元件 表面长晶凸起图型化结构,其中,该基板与该第一 型半导体层之间,更包括设有一缓冲层。 图式简单说明: 第一图系习知一种发光二极体之构造图。 第二图系本创作第一较佳实施例之构造图。 第三图系本创作第二较佳实施例之构造图。 第四图系本创作第三较佳实施例之构造图。 第五图系本创作第四较佳实施例之构造图。
地址 桃园县大溪镇仁和路2段349号7楼