发明名称 |
一种温度补偿型片式多层陶瓷电容器的制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种片式多层陶瓷电容器的制备方法,主要由瓷浆制备、流延介质膜片、交替叠印内电极和介质层、层压、切割、排胶、烧结、倒角、封端、烧端工序组成,在瓷浆制备中,所用的瓷料是CaZrO3和SrTiO3瓷料,CaZrO3与SrTiO3的重量比是1:(1.5~3);所述的排胶最高温度是270~290℃;所述的烧结最高温度是1270~1300℃,烧结保温时间2-3小时,本发明大大降低了生产成本,同时可实现镍贱金属电极的温度补偿型多层化陶瓷电容器的制备。该电容很适合用于汽车电子、照明电子等我国新兴产业领域。 |
申请公布号 |
CN102354599A |
申请公布日期 |
2012.02.15 |
申请号 |
CN201110181102.4 |
申请日期 |
2011.06.30 |
申请人 |
广东风华高新科技股份有限公司 |
发明人 |
祝忠勇;陆亨;宋子峰 |
分类号 |
H01G4/00(2006.01)I;H01G4/008(2006.01)I;H01G4/12(2006.01)I;H01G4/232(2006.01)I |
主分类号 |
H01G4/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州粤高专利商标代理有限公司 44102 |
代理人 |
杨利娟 |
主权项 |
一种片式多层陶瓷电容器的制备方法,主要由瓷浆制备、流延介质膜片、交替叠印内电极和介质层、层压、切割、排胶、烧结、倒角、封端、烧端工序组成,所述的交替叠印内电极和介质层工序中,内电极材料是镍Ni,所述的封端工序中,端电极材料是铜Cu,其特征在于:在瓷浆制备中,所用的瓷料是CaZrO3和SrTiO3瓷料,CaZrO3与SrTiO3的重量比是1:(1.5~3);所述的排胶最高温度是270~290℃,排胶时间是57~60小时;所述的烧结最高温度是1270~1300℃,烧结保温时间2 3小时,当烧结时从室温到1000℃升温速率为3 4℃/min,1000℃至最高温的升温速率控制在2 2.5℃/min,降温速率为3 4℃/min,整个烧结过程在含H2的N2气氛保护下进行的,H2体积含量控制在气氛总量的0.5 3%。
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地址 |
526020 广东省肇庆市风华路18号风华电子工业城 |