发明名称 一种铜纳米线/铜膜复合结构及其制备方法
摘要 本发明公开了一种铜纳米线/铜膜复合结构及其制备方法,目的是提供一种铜纳米线/铜膜复合结构及其磁控溅射制备方法。本发明采用小沉积角度的直流磁控溅射掠射沉积技术,通过适当调节薄膜厚度、衬底温度和衬底偏压,在玻璃衬底上制备了一种铜纳米线/铜膜复合结构。本发明所提供的铜纳米线/铜膜复合结构中,铜纳米线表面光滑、径向粗细均匀,长度为0.1~5mm、直径为100~500nm,铜膜的厚度为50~100nm。而且,铜纳米线平行于铜膜表面、镶嵌在厚度比铜纳米线直径还小的铜膜中。本发明在金属铜膜表面镶嵌了亚波长的铜纳米线,这在与表面等离子体相关的领域可能具有潜在应用前景。
申请公布号 CN102345096A 申请公布日期 2012.02.08
申请号 CN201110179386.3 申请日期 2011.06.29
申请人 常州大学 发明人 苏江滨;蒋美萍;李星星;潘丁娟
分类号 C23C14/16(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I 主分类号 C23C14/16(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 楼高潮
主权项 一种铜纳米线/铜膜复合结构,其特征在于:铜纳米线表面光滑,径向粗细均匀,长度为0.1~5 mm、直径为100~500 nm,铜膜的厚度为50~100 nm,铜纳米线平行于铜膜表面并镶嵌在铜膜中。
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