发明名称 半导体装置
摘要 具有:铁电电容器42,其形成在半导体基板10上,且具有下部电极36、形成在下部电极36上的铁电膜38、形成在铁电膜38上的上部电极40;氧化硅膜60,其形成在半导体基板10上及上述铁电电容器42上,且表面被平坦化;平坦的阻挡膜62,其中间夹着氧化硅膜61而形成在氧化硅膜60上,来防止氢或水分的扩散;氧化硅膜74,其形成在阻挡膜62上,且表面被平坦化;平坦的阻挡膜78,其中间夹着氧化硅膜76而形成在氧化硅膜74上,来防止氢或水分的扩散。
申请公布号 CN1993828B 申请公布日期 2012.02.08
申请号 CN200580026641.3 申请日期 2005.06.29
申请人 富士通半导体股份有限公司 发明人 永井孝一
分类号 H01L27/105(2006.01)I 主分类号 H01L27/105(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 张龙哺
主权项 一种半导体装置,其特征在于,具有:铁电电容器,其形成在半导体基板上,且具有下部电极、形成在上述下部电极上的铁电膜、形成在上述铁电膜上的上部电极,第一配线,其与上述铁电电容器的上述下部电极或上述上部电极电连接,第一绝缘膜,其形成在上述第一配线的上方,且表面被平坦化,第二绝缘膜,其形成在上述第一绝缘膜上,平坦的第一阻挡膜,其形成在上述第二绝缘膜上,防止氢或水分的扩散,第三绝缘膜,其形成在上述第一阻挡膜上,第二配线,其形成在上述第三绝缘膜上,第四绝缘膜,其形成在上述第二配线上,且表面被平坦化,第五绝缘膜,其形成在上述第四绝缘膜上,平坦的第二阻挡膜,其形成在上述第五绝缘膜上,防止氢或水分的扩散,第六绝缘膜,其形成在上述第二阻挡膜上,第三配线,其形成在上述第二配线上,且与外部电路电连接。
地址 日本神奈川县横浜市