发明名称 |
微粒测定装置 |
摘要 |
本发明公开了一种微粒测定装置。该微粒测定装置包括滤光器,该滤光器被分成多个区域且设置在光路上,在该光路上从用光照射的微粒发出的光被引导至光检测器。在该微粒测定装置中,该滤光器包括:具有波长选择性的第一区域,该第一区域通过波长选择性来阻断来自微粒的反射光及不需要的散射光分量并且透射荧光;以及第二区域,至少设置在该第一区域周围且不具有波长选择性,以透射需要的散射光分量。 |
申请公布号 |
CN102346145A |
申请公布日期 |
2012.02.08 |
申请号 |
CN201110199688.7 |
申请日期 |
2011.07.15 |
申请人 |
索尼公司 |
发明人 |
外石满;濑尾胜弘;高崎浩司;山田晋司;福本敦 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;G01N21/65(2006.01)I;G01N21/15(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
余刚;吴孟秋 |
主权项 |
一种微粒测定装置,包括:滤光器,被分割成多个区域,且被设置在用光照射微粒而从所述微粒发出的光被引导至光检测器的光路上;其中,所述滤光器包括:具有波长选择性的第一区域,所述第一区域通过所述波长选择性来阻断来自微粒的反射光和不需要的散射光分量并且透射荧光,以及第二区域,设置在至少所述第一区域的周围并且不具有波长选择性,以透射需要的散射光分量。 |
地址 |
日本东京 |