发明名称 |
集成电路3D存储器阵列及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种集成电路3D存储器阵列及其制造方法。该3D存储器元件是基于电极柱阵列及多个电极平面,所述多个电极平面在界面区与所述电极柱相交,所述界面区包含存储器构件,所述存储器构件包括可编程构件及整流器。可使用二维译码来选择所述电极柱,且可使用第三维上的译码来选择所述多个电极平面。 |
申请公布号 |
CN101872788B |
申请公布日期 |
2012.02.08 |
申请号 |
CN201010166150.1 |
申请日期 |
2010.04.19 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
龙翔澜;吕函庭 |
分类号 |
H01L29/792(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L27/115(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/792(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
一种存储器元件,其特征在于,包括:集成电路基板,包含存取元件阵列;多个导电层,通过绝缘层而彼此分离且与所述存取元件阵列分离;电极柱阵列,其延伸穿过所述多个导电层,该电极柱阵列中的电极柱接触所述存取元件阵列中的对应存取元件,且界定该电极柱与所述多个导电层中的导电层之间的界面区;以及存储器构件在于所述界面区,所述存储器构件中的每一者包括可编程构件及整流器。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区力行路16号 |