发明名称 集成电路3D存储器阵列及其制造方法
摘要 本发明公开了一种集成电路3D存储器阵列及其制造方法。该3D存储器元件是基于电极柱阵列及多个电极平面,所述多个电极平面在界面区与所述电极柱相交,所述界面区包含存储器构件,所述存储器构件包括可编程构件及整流器。可使用二维译码来选择所述电极柱,且可使用第三维上的译码来选择所述多个电极平面。
申请公布号 CN101872788B 申请公布日期 2012.02.08
申请号 CN201010166150.1 申请日期 2010.04.19
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 龙翔澜;吕函庭
分类号 H01L29/792(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I;H01L27/115(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L29/792(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种存储器元件,其特征在于,包括:集成电路基板,包含存取元件阵列;多个导电层,通过绝缘层而彼此分离且与所述存取元件阵列分离;电极柱阵列,其延伸穿过所述多个导电层,该电极柱阵列中的电极柱接触所述存取元件阵列中的对应存取元件,且界定该电极柱与所述多个导电层中的导电层之间的界面区;以及存储器构件在于所述界面区,所述存储器构件中的每一者包括可编程构件及整流器。
地址 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号
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