发明名称 | X射线成像装置和测量方法 | ||
摘要 | 本发明涉及X射线成像装置和测量方法。一种获得X射线图像的X射线成像装置,该装置包括:成像单元,包括适于将由根据操作指令输出或停止X射线的X射线成像装置产生的X射线转换成图像信号的多个检测元件;和获得单元,适于基于从成像单元输出的图像信号获得X射线产生装置的操作开始定时并且获得对于X射线产生装置的操作指令的定时与操作开始定时之间的差值。 | ||
申请公布号 | CN102342840A | 申请公布日期 | 2012.02.08 |
申请号 | CN201110209888.6 | 申请日期 | 2011.07.26 |
申请人 | 佳能株式会社 | 发明人 | 土谷佳司 |
分类号 | A61B6/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 杜娟 |
主权项 | 一种获得X射线图像的X射线成像装置,该装置包括:成像单元,包括多个检测元件,所述多个检测元件适于将由根据操作指令输出或停止X射线的X射线产生装置产生的X射线转换成图像信号;和获得单元,适于基于从所述成像单元输出的图像信号获得X射线产生装置的操作开始定时并且获得对于X射线产生装置的操作指令的定时与所述操作开始定时之间的差值。 | ||
地址 | 日本东京 |