发明名称 发光装置的检查方法及发光装置的检查之后的处理方法
摘要 本发明涉及一种发光装置的检查方法及发光装置的检查之后的处理方法。该方法包括通过将电流施加于多个发光元件并判断每个发光元件通过测试或未通过测试来对(A)包括具有在其上安装并且封装的多个发光元件的引线框架的发光装置或(B)通过树脂包封并封装发光装置(A)获得的发光装置进行发光测试,其中,发光装置中的多个发光元件的布置被如下(α)地设置:(α)在具有包括多行和多列以及由此形成的多个交点的格子形式的引线框架中,多个发光元件被布置在每行的相邻交点之间,每行中的相邻的发光元件彼此连接,使得其正电极端子或负电极端子彼此面对,以及引线框架中的正侧电源通道或负侧电源通道用作某一列以及与其相邻的列之间的公共通道。
申请公布号 CN102347404A 申请公布日期 2012.02.08
申请号 CN201110214274.7 申请日期 2011.07.22
申请人 日东电工株式会社 发明人 佐藤慧;伊藤久贵;大薮恭也
分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01L33/48(2010.01)I;H01L33/62(2010.01)I;G01R31/26(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 孙志湧;穆德骏
主权项 一种检查发光装置的方法,所述方法包括通过将电流施加于多个发光元件并判断每个发光元件通过测试或未通过测试,来执行下述发光装置的发光测试,所述发光装置是(A)包括具有在其上安装并且封装的多个发光元件的引线框架的发光装置,或(B)通过树脂包封并且封装所述发光装置(A)获得的发光装置,其中,所述发光装置中的多个发光元件的布置被设置为如下(α):(α)在具有包括多行和多列以及由此形成的多个交点的格子形式的引线框架中,多个发光元件被布置在每行的相邻交点之间,每行中的相邻的发光元件彼此连接,使得其正电极端子或负电极端子彼此面对,以及引线框架中的正侧电源通道或负侧电源通道用作特定列和与该特定列相邻的列之间的公共通道。
地址 日本大阪