| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren sowie ein Massenspektrometer und dessen Verwendungen zum Nachweis von Ionen oder nachionisierten Neutralteilchen aus Proben. Das Verfahren zum Betreiben eines Flugzeit-Massenspektrometers zur Analyse eines ersten gepulsten Ionenstrahles, dessen Ionen bezüglich ihrer Ionenmassen längs der Pulsrichtung getrennt angeordnet sind, ist dadurch gekennzeichnet, dass die Ionen mindestens einer einzelnen vorbestimmten Ionenmasse oder mindestens eines vorbestimmten Bereiches von Ionenmassen als mindestens ein ausgekoppelter Ionenstrahl aus dem ersten gepulsten Ionenstrahl auskoppelbar sind, und der erste Ionenstrahl und der mindestens eine ausgekoppelte Ionenstrahl analysiert werden.
|
