发明名称 集成电路中真随机数的产生方法
摘要 本发明涉及一种集成电路中真随机数的产生方法,属于核算装置技术领域。特点是:首先通过采样电路,对数字电源信号及数字电源信所产生的噪声进行采样;随后对采样到的噪声信号进行放大,得到随机数模拟数值;接着对随机数模拟数值进行比较,获取两组64位的数据信号,存入移位寄存器当中;最后将存入的两组数据信号分别记为第一随机序列和第二随机序列,把第一随机序列作为DES算法中的明文,把第二随机序列当作DES算法中的密钥,进行DES算法,获取真随机数。本发明增加了随机数的可被预测的难度,运用在信息安全领域的集成电路设计当中,不仅安全性能高,且设计周期短。
申请公布号 CN101727308B 申请公布日期 2012.02.01
申请号 CN200810155618.X 申请日期 2008.10.28
申请人 苏州中科集成电路设计中心有限公司 发明人 彭海辉;刘新宇;黄洁
分类号 G06F7/58(2006.01)I 主分类号 G06F7/58(2006.01)I
代理机构 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人 陈忠辉;姚姣阳
主权项 集成电路中真随机数的产生方法,其特征在于包括以下步骤:步骤①,通过采样电路对数字电源信号及数字电源信号所产生的噪声进行采样,采样电源的噪声和电路或集成电路本身的热噪声进行迭加,并对此物理信号进行处理,产生集成电路里面所需要的真随机数;步骤②,对采样到的噪声信号进行放大,得到随机数模拟数值;步骤③,对随机数模拟数值进行比较,获取两组64位的数据信号,存入移位寄存器当中,既给比较级脉冲输入控制端输入时钟脉冲,在脉冲输入上升沿到来时,比较器输出有效数据位;在同步时钟的控制下,此有效数据位与上一个时钟上升沿输出的有效数据位进行异或运算,并通过移位寄存器把数据保存;比较器有效数据位的输出和移位寄存器均由集成电路的输出由时钟进行控制;当存入两组64位总共128位的数据信号时,即可完成信号存储;步骤④,将存入的两组数据信号分别记为第一随机序列和第二随机序列,把第一随机序列作为DES算法中的明文,把第二随机序列当作DES算法中的密钥,进行DES算法,获取真随机数。
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