| 发明名称 | 一种光发射信号质量测试方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种光发射信号质量测试方法和系统，为相位调制信号提供衡量指标。所述方法包括：相位调制光收发合一模块接收信号，输出光信号至检测模块；检测模块对输入的光信号进行相干检测，对相干检测后的信号进行相位信息检测；根据所述检测模块检测到的相位信息计算误差矢量幅度(EVM)值；根据所述EVM值衡量所述相位调制光收发合一模块发射的光信号的质量。 | ||
| 申请公布号 | CN102340348A | 申请公布日期 | 2012.02.01 |
| 申请号 | CN201010234008.6 | 申请日期 | 2010.07.15 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 李蒙 |
| 分类号 | H04B10/08(2006.01)I | 主分类号 | H04B10/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 解婷婷;龙洪 |
| 主权项 | 一种光发射信号质量测试方法，所述方法包括：相位调制光收发合一模块接收信号，输出光信号至检测模块；检测模块对输入的光信号进行相干检测，对相干检测后的信号进行相位信息检测；根据所述检测模块检测到的相位信息计算误差矢量幅度(EVM)值；根据所述EVM值衡量所述相位调制光收发合一模块发射的光信号的质量。 | ||
| 地址 | 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 | ||