发明名称 METHOD FOR LOW-K DIELECTRIC ETCH WITH REDUCED DAMAGE
摘要
申请公布号 KR20120009443(A) 申请公布日期 2012.01.31
申请号 KR20117023645 申请日期 2010.04.05
申请人 LAM RESEARCH CORPORATION 发明人 JI BING;TAKESHITA KENJI;BAILEY ANDREW D. III;HUDSON ERIC A.;MORAVEJ MARYAM;SIRARD STEPHEN M.;KO, JUNG MIN;LE DANIEL;HEFTY ROBERT C.;CHENG YU;DELGADINO GERARDO A.;YEN BI MING
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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