| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung (10, 50) zur Bestimmung des Umhüllungsgrades von Bindemittel (2) an bindemittelumhülltem gebrochenem, zum Bindemittel (2) optisch unterschiedlich reflektierendem Festmaterial (1), wobei als Umhüllungsgrad das Verhältnis der ermittelten Fläche des Bindemittels (2) zur Gesamtfläche des untersuchten bindemittelumhüllten Festmaterials (1) definiert wird. Die Aufgabe besteht darin, dass die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Messung und Bestimmung der Umhüllung des Bindemittels in Relation zum bindemittelumhüllten Festmaterial erhöht werden. Die Lösung besteht aus folgenden wesentlichen Schritten: – Einsatz mindestens einer Beleuchtungsquelle (11, 12, 13, 14; 33) mit einem schmalen Wellenlängenbereich auf mindesten zwei voneinander beabstandeten Strahlungspositionen (34, 35) und Einsatz einer Kamera (13) zur Aufnahme von reflektierten Bildern (18, 19, 20, 21; 38, 39, 40, 38', 39', 40'), – Gerichtete Beleuchtungen des bindemittelumhüllten gebrochenen Festmaterials (1) mit Strahlenbündel (7) der Beleuchtungsquelle (11, 12, 13, 14; 33), – Ausbildung von diffusen Reflexionen des gerichtet eingestrahlten Strahlenbündels (7) an dem bindemittelumhüllten gebrochenen Festmaterial (1), – Ausbildung einer gerichteten Reflexion (6) des gerichtet eingestrahlten Strahlenbündels (7) an glatten Flächen des Bindemittels (2) des bindemittelumhüllten gebrochenen Festmaterials (1), – Registrierung und Auswertung der multidirektionalen Reflexionen am Bindemittel (2) und am bindemittelumhüllten gebrochenen Festmaterial (1) mittels der Kamera (13) und einer damit verbundenen Auswerteeinheit (16), – Bestimmung des Umhüllungsgrades als Verhältnis aus den reflektiv registrierten glatten Flächen des Bindemittels (2) und der reflektiv ermittelten Gesamtfläche des bindemittelumhüllten gebrochenen Festmaterials (1) in der Auswerteeinheit (16). |
