用于测量和控制过程参数的方法及系统

摘要

本发明涉及测量和控制过程参数的方法和系统。用于监测各种过程参数的系统和方法，主要与在连续热处理中对颗粒食物的杀菌的处理有关，利用专用集成电路(ASIC)，在电路嵌入经受这种处理的微粒中时，为批或连续热处理提供与过程相关的数据。利用由这种电路提供的过程数据结合过程设计以及至少接近实时的过程控制来描述优选的方法。

主权项

一种用于监测批或连续热处理的至少一个过程条件的系统，所述系统包括：(a)至少一个可被射频信号识别的专用集成电路；(b)所述电路具有至少一个能够测量至少一个过程条件的传感器；(c)至少一个能够与所述电路通信的收发机；以及(d)至少一个嵌有所述电路的微粒，所述微粒进一步位于具有多个组成微粒的异质流体中。