发明名称 |
一种用于检测阵列绕线的母基板及其检测方法 |
摘要 |
本发明提供一种可用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板及其检测方法。该母基板包括一由m行和n列液晶面板所构成的液晶面板阵列和一测试区。其中在该液晶面板中的栅极驱动区与源极驱动区之间存在有一阵列绕线组,该测试区还进一步包括一测试垫组和一测试线组,且彼此电性连接。又该测试线组贯穿于液晶面板阵列和测试垫区所在的区域。为检测液晶面板中阵列绕线组,则通过一引出线组将该阵列绕线组和该测试线组电性连接,其一端电性连接至该液晶面板的阵列绕线组,另一端电性连接至该测试线组。检测方法更是借助该引出线组,再透过一观测性强的检测系统来检测该阵列绕线组的状况。 |
申请公布号 |
CN102331633A |
申请公布日期 |
2012.01.25 |
申请号 |
CN201110281927.3 |
申请日期 |
2011.09.21 |
申请人 |
深超光电(深圳)有限公司 |
发明人 |
王明宗 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板,该母基板包括:一液晶面板阵列,其由多个液晶面板所构成,该液晶面板包括:一显示区、一栅极驱动区、一源极驱动区和一阵列绕线组,其中阵列绕线组由多条阵列绕线所构成;一测试区,其设置于该液晶面板阵列的周边,该测试区包括:一测试线组及一测试垫组,其中该测试线组与该测试垫组彼此电性连接,并该测试线组贯穿于该测试区与该液晶面板阵列间的区域或液晶面板阵列之液晶面板间的区域,又该测试线组由多条测试线所构成,该测试垫组由多个测试垫所构成;以及一引出线组,其设置于该液晶面板的阵列绕线组与该测试线组之间,并该引出线组一端与该阵列绕线组电性连接,另一端与该测试线组电性连接,其中该引出线组由多条引出线所构成。 |
地址 |
518109 广东省深圳市宝安区龙华街道办民清路深超光电科技园A栋 |