一种双弹簧探针

摘要

本实用新型涉及一种集成电路测试时使用的探针，特别是在高频集成电路测试时能保证探针总长极短，同时又要提供较大的接触压力，提供稳定电气连接的双弹簧探针。由上顶针、下顶针与两弹簧组成，两弹簧并排设置在上、下顶针之间，上、下顶针通过互相反扣的钩状结构相配合，达到稳定的探针装配结构。对于相同的探针压缩量，本实用新型结构的弹簧探针产生的量几乎相当于传统探针的两倍。

主权项

一种双弹簧探针，其特征由上顶针(1)、下顶针(4)、两弹簧(31、32)组成，两弹簧并排设置在上、下顶针之间，上、下顶针通过互相反扣的钩状结构(5)相配合，达到稳定的探针装配结构。