发明名称 |
一种两箱式温度冲击试验箱 |
摘要 |
本发明涉及样品温度冲击试验仪器技术领域,具体地说是一种两箱式温度冲击试验箱,包括高温箱体、低温箱体、电气柜、电气系统、制冷系统及加热系统,所述高温箱体与低温箱体之间设有可移动隔栏,所述高温箱体、低温箱体的前端面分别连接高温区拉门、低温区拉门,所述高温箱体内部设有加热系统,所述低温箱体内部设有制冷系统,所述低温箱体内部底端面设有汽缸,所述汽缸的活塞端连接可上下移动的样品架;本发明结构新颖,使用方便,采用汽缸来拉动样品架,进行高低温试验,避免了常规电机拉升引起行程开关故障,箱体拉变形的弊端,箱体内温度的均匀和稳定。 |
申请公布号 |
CN102331436A |
申请公布日期 |
2012.01.25 |
申请号 |
CN201110188171.8 |
申请日期 |
2011.07.06 |
申请人 |
上海林频仪器股份有限公司 |
发明人 |
孙光林 |
分类号 |
G01N25/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N25/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海精晟知识产权代理有限公司 31253 |
代理人 |
杨军 |
主权项 |
一种两箱式温度冲击试验箱,包括高温箱体、低温箱体、电气柜、电气系统、制冷系统及加热系统,所述高温箱体与低温箱体之间设有可移动隔栏,所述高温箱体、低温箱体的前端面分别连接高温区拉门、低温区拉门,所述高温箱体内部设有加热系统,所述低温箱体内部设有制冷系统,其特征在于:所述低温箱体内部底端面设有汽缸,所述汽缸的活塞端连接可上下移动的样品架。 |
地址 |
200240 上海市闵行区剑川路953弄100号4幢104室 |