发明名称 一种两箱式温度冲击试验箱
摘要 本发明涉及样品温度冲击试验仪器技术领域,具体地说是一种两箱式温度冲击试验箱,包括高温箱体、低温箱体、电气柜、电气系统、制冷系统及加热系统,所述高温箱体与低温箱体之间设有可移动隔栏,所述高温箱体、低温箱体的前端面分别连接高温区拉门、低温区拉门,所述高温箱体内部设有加热系统,所述低温箱体内部设有制冷系统,所述低温箱体内部底端面设有汽缸,所述汽缸的活塞端连接可上下移动的样品架;本发明结构新颖,使用方便,采用汽缸来拉动样品架,进行高低温试验,避免了常规电机拉升引起行程开关故障,箱体拉变形的弊端,箱体内温度的均匀和稳定。
申请公布号 CN102331436A 申请公布日期 2012.01.25
申请号 CN201110188171.8 申请日期 2011.07.06
申请人 上海林频仪器股份有限公司 发明人 孙光林
分类号 G01N25/00(2006.01)I 主分类号 G01N25/00(2006.01)I
代理机构 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 代理人 杨军
主权项 一种两箱式温度冲击试验箱,包括高温箱体、低温箱体、电气柜、电气系统、制冷系统及加热系统,所述高温箱体与低温箱体之间设有可移动隔栏,所述高温箱体、低温箱体的前端面分别连接高温区拉门、低温区拉门,所述高温箱体内部设有加热系统,所述低温箱体内部设有制冷系统,其特征在于:所述低温箱体内部底端面设有汽缸,所述汽缸的活塞端连接可上下移动的样品架。
地址 200240 上海市闵行区剑川路953弄100号4幢104室