发明名称 |
一种多次同步模拟内插的时间间隔测量方法和装置 |
摘要 |
本发明了提供一种多次同步模拟内插的时间间隔测量方法和装置,该方法包括如下步骤:使用32位的循环计数器测量时标时刻,形成本地时标,该循环计数器的计时分辨率为10ns;输入被测信号,使用所述循环计数器对所述被测信号进行计数;使用时间展宽器对所述被测信号未被所述循环计数器计数的残余时间间隔进行n次同步的时间展宽,然后采用闸门计数器测量经时间展宽后的所述残余时间间隔;计算所述循环计数器的计数结果和所述闸门计数器的测量结果并输出所述被测信号的测量数据。通过本发明的方法和装置可以达到100ps内测量精度和1M/s的采样率。 |
申请公布号 |
CN101976037B |
申请公布日期 |
2012.01.25 |
申请号 |
CN201010562836.2 |
申请日期 |
2010.11.29 |
申请人 |
北京一朴科技有限公司 |
发明人 |
张军;徐勇;陈明 |
分类号 |
G04F10/00(2006.01)I;G04F10/04(2006.01)I |
主分类号 |
G04F10/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种多次同步模拟内插的时间间隔测量方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:使用32位的循环计数器测量时标时刻,形成本地时标,该循环计数器的计时分辨率为10ns;输入被测信号,使用所述循环计数器对所述被测信号进行计数;使用时间展宽器对所述被测信号未被所述循环计数器计数的残余时间间隔进行n次同步的时间展宽,然后采用闸门计数器测量经时间展宽后的所述残余时间间隔,其中n为大于等于3的正整数;计算所述循环计数器的计数结果和所述闸门计数器的测量结果并输出所述被测信号的测量数据。 |
地址 |
100086 北京市海淀区中关村东路123号2号楼2008 |